Atomic force microscopy as a suitable tool for probing the polar axis direction in electroactive P(VDF-co-TrFE) films at the nanoscale

M.M. Saj Mohan (1) , Antonio Da Costa (2) , Jean-François Tahon (3) , Vincent Bouad (3) , Ahmad Hamieh (4, 5) , Ahmed Addad (3) , Adeline Marin (3) , Frédéric Cazaux (3) , Freddy Ponchel (6, 5, 4) , Jean-Marc Lefebvre (3) , Vincent Ladmiral (7) , Denis Remiens (5, 4) , Rachel Desfeux (8) , Sophie Barrau (3) , Anthony Ferri (8)

1 MESA+ Research Institute
2 UCCS - Unité de Catalyse et Chimie du Solide - UMR 8181
3 UMET - Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207
4 MAMINA - IEMN - Matériaux et Acoustiques pour MIcro et NAno systèmes intégrés - IEMN
5 IEMN - Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
6 IEMN-DOAE - Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520
7 ICGM - Institut Charles Gerhardt Montpellier - Institut de Chimie Moléculaire et des Matériaux de Montpellier
8 UCCS Équipe Couches Minces & Nanomatériaux

Domains: Physics [physics]; Physics [physics]; Chemical Physics [physics.chem-ph]; Chemical Sciences; Material chemistry

M.M. Saj Mohan, Antonio Da Costa, Jean-François Tahon, Vincent Bouad, Ahmad Hamieh, et al.. Atomic force microscopy as a suitable tool for probing the polar axis direction in electroactive P(VDF-co-TrFE) films at the nanoscale. Matériaux Électroactifs et Applications (MatElec 2022), Jul 2022, Villeneuve d'Ascq, France. ⟨hal-03956501⟩